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產(chǎn)品名稱：SP-601型方形四探針探頭
產(chǎn)品型號：方塊電阻測試儀測頭
產(chǎn)品廠商：深圳時代之峰科技有限公司
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簡單介紹：

SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

詳情介紹：

SP-601型方形四探針探頭

SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

SP-601型方形四探針探頭特性及規(guī)格：

1；特制之手握式探筆
2；球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜不被損傷
3；探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4；探頭使用壽命長
5；探針間距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

SP-601型方形四探針探頭

型號 (Model)	曲率半徑 (Radius)	壓力 (loads)	探針間距 (spacing)	探針排列 (Arrangement)
SP-601	0.5mm	100g	1.59mm	方形

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產(chǎn)品名稱：SP-601型方形四探針探頭